電路保護專家，當然不能少了它！晶揚電子設備介紹（1）

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【晶揚電子】為更好地服務于廣大客戶，公司實驗室已配備各類齊全的測試設備與實驗裝置，歡迎各位客戶前來使用測試 

測試設備與實驗裝置如下：

半導體器件參數分析儀

    （Semiconductor Device Parameter Analyzer）

半導體參數分析儀是一種集多種測量和分析功能于一體的測試儀器,可準確執(zhí)行電流-電壓（IV）、電容測量{CV（電容-電壓）、C-f（電容-頻率）和 C-t（電容-時間）}，并快速、輕松地對測量結果進行分析，完成半導體參數測試提供極其豐富的測量功能。

支持器件、材料、半導體、有源/無源器件，甚至幾乎所有其他類型電子器件的電氣表征和測試，并且具有卓越的測量可靠性和測量效率。

按照美國聯邦通信委員會 (FCC) 對電信產品抗擊有關雷擊浪涌波形的FCC 第 68 部分中要求來制作 , 其性能指標覆蓋該標準的要求。        

設備參數                          

公司簡介

深圳市晶揚電子有限公司

作為一家國家高新技術企業(yè)，深圳市高新技術產業(yè)協(xié)會會員

多年專業(yè)從事IC設計、生產、銷售及系統(tǒng)集成的IC DESIGN HOUSE，總部位于香港（香港天微電子有限公司）

如需相關資料及樣品，請用以下方式聯系~

電話：0755-86024973，19867705160

郵箱：service@jy-electronics.com.cn market@jy-electronics.com.cn

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